1000A / 18V منبع برق پالس جریان بالا HCPL100 برای آزمایش SiC / IGBT / GaN HEMT
در حال حاضر، 15μs لبه پالس تند، و دو کانال اندازه گیری ولتاژ پالس، ایده آل برای آزمایش دیود های Schottky، دستگاه های IGBT، و بیشتر، خوش آمدید به بازدید از وب سایت ما!
واحد اندازه گیری منبع
-
1000A 18V منبع جریان الکتریکی پالس بالا HCPL100 منبع برق قابل برنامه ریزی
اکنون تماس بگیرید -
منبع برق پالس 300A 30V منبع جریان بالا HCPL030 برای آزمایش SiC IGBT GaN HEMT
اکنون تماس بگیرید -
10 ولت 500mA PXI واحد اندازه گیری منبع Sub Card Pulse PXI SMU Unit CBI401
اکنون تماس بگیرید -
اندازه گیری منبع پالس P300 300V 1A 10A واحد اندازه گیری منبع تست نیمه هادی
اکنون تماس بگیرید -
واحد اندازه گیری منبع پالس 30 ولت 4A 30A واحد اندازه گیری منبع P100B برای دستگاه های نیمه هادی
اکنون تماس بگیرید
فیلم های مرتبط
2 MS/s کارت جمع آوری داده های چند کانال A400B Board سرعت بالا
واحد اندازه گیری منبع
February 26, 2025
S300 واحد اندازه گیری منبع DC 300V/1A برای آزمایش ویژگی های الکتریکی
واحد اندازه گیری منبع
February 24, 2025
کارت اکتشاف داده A400 با رزولوشن 16 بیتی ADC و نرخ نمونه گیری 1MS / s
کارت جمع آوری اطلاعات
February 26, 2025
10kV/6000A دستگاه قدرت تحلیلگر سیستم تست ثابت PMST برای MOSFET BJT IGBT و SiC GaN نیمه هادی
سیستم های آزمایش نیمه هادی
February 26, 2025
300A/30V منبع برق پالس با جریان بالا HCPL030 برای آزمایش SiC/IGBT/GaN HEMT
منبع برق جریان بالا
February 25, 2025
300V/30A دو کانال منبع متر DP300B برای آزمایش های مختلف ویژگی های الکتریکی
اندازه گیری منبع دو کانال
February 24, 2025