10 ولت 500mA PXI واحد اندازه گیری منبع Sub Card Pulse PXI SMU Unit CBI401

زیرکارت ماژولار CBI401 یک جزء اصلی از واحدهای اندازه گیری منبع دیجیتال دقیق (SMU) سری CS است که برای توصیف الکتریکی چند کانال متوسط تا کم مصرف طراحی شده است.دارای یک معماری چهار کانال یک کارت، هر کانال مستقل یا همزمان کار می کند، ایده آل برای آزمایش موازی با چگالی بالا. سازگار با Pusces 1003CS (3-slot) و 1010CS (10-slot) میزبان،از پهنای باند 3 گیگابایت در ثانیه و اتوبوس 16 کانال استفاده می کند تا هماهنگی چند دستگاه با سرعت بالا را امکان پذیر کندبهینه سازی شده برای کم سر و صدا، تست دسته ای با ثبات بالا، آن را ارائه می دهد تا 500mA در حال حاضر، ولتاژ 10V، و قدرت 5W در هر کانال، رسیدگی به نیازهای آزمایش دقیق در نیمه هادی، سنسورها،و دستگاه های مایکرو قدرت.

ویژگی های محصول

▪طراحی چند کانال با چگالی بالا:شامل 4 کانال مستقل در هر زیر کارت برای آزمایش دستگاه موازی است.

▪ عملیات هم زمان:همگام سازی توسط سخت افزار در میان کانال ها دقت زمان بندی سطح μs را تضمین می کند.

▪ دقت و کم صدا:0.1٪ دقت منبع / اندازه گیری با رزولوشن 51⁄2-رقمی؛ اندازه گیری جریان تا 5μA، محدوده ولتاژ 10mV10V.

▪ عمليات چهار قطب:شبیه سازی تغذیه یا رفتار بار الکترونیکی در حالت منبع / غرق شدن.

▪ انعطاف پذیری دو حالت:از پروتکل های آزمایش پالس و DC برای توصیف پویا پشتیبانی می کند.

▪ معماری مقیاس پذیر:یکپارچه سازی با میزبان های سری CS برای گسترش سیستم تا 40 کانال.

پارامترهای محصول

درخواست ها

▪ آزمایش ویژگی های دستگاه های نیمه هادی جداگانه، از جمله مقاومت ها، دیودها، دیودهای تولید کننده نور، دیودهای زنر، دیودهای PIN، ترانزیستورهای BJT، MOSFETها، SIC، GaN و سایر دستگاه ها.

▪ آزمایشات انرژی و کارایی،از جمله LED/AMOLED،سلول های خورشیدی،مبدل های DC-DC،و غیره؛

▪ تست ویژگی های سنسور، از جمله مقاومت، اثر هال، و غیره.

▪ آزمایش ویژگی مواد آلی، از جمله جوهر الکترونیکی، تکنولوژی الکترونیکی چاپی و غیره؛

▪ آزمایش ویژگی های نانومواد، از جمله گرافن، نانو وایر، و غیره.