کانال ویدیویی چین Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
گپ تماس با ما
خونه ویدیوها لیست پخش درباره ما وب سایت رسمی
فارسی
English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Polish
Persian
Bengali
Thai
Vietnamese
Arabic
Hindi
Turkish
Indonesian
loading

1200V/100A تحلیلگر پارامتر نیمه هادی SPA6100

سیستم های آزمایش نیمه هادی
February 26, 2025
گپ
معرفی SPA6100 Semiconductor Parameter Analyzer، ارائه دقت بالا، محدوده اندازه گیری گسترده، انعطاف پذیری سریع و سازگاری قوی،پشتیبانی از آزمایش همزمان ولتاژ جریان ثابت، ظرفیت- ولتاژ، و ویژگی های I-V پالس تحت شرایط جریان بالا / ولتاژ بالا، با محدوده ولتاژ 300mV ~ 1200V، محدوده جریان 10nA ~ 100A، و 0.1٪،0.03% دقت، خوش آمدید به بازدید از وب سایت ما!
سیستم های آزمایش نیمه هادی
فیلم های مرتبط
سیستم پیری لیزری چند کانال LDBI با قدرت بالا 00:34
سیستم پیری لیزری چند کانال LDBI با قدرت بالا

سیستم پیری لیزری چند کانال LDBI با قدرت بالا
سیستم های آزمایش نیمه هادی
February 26, 2025
سیستم آزمون سنسور جریان 1000A CTMS 00:24
سیستم آزمون سنسور جریان 1000A CTMS

سیستم آزمون سنسور جریان 1000A CTMS
سیستم های آزمایش نیمه هادی
February 26, 2025
10kV/6000A دستگاه قدرت تحلیلگر سیستم تست ثابت PMST برای MOSFET BJT IGBT و SiC GaN نیمه هادی 00:30
10kV/6000A دستگاه قدرت تحلیلگر سیستم تست ثابت PMST برای MOSFET BJT IGBT و SiC GaN نیمه هادی

10kV/6000A دستگاه قدرت تحلیلگر سیستم تست ثابت PMST برای MOSFET BJT IGBT و SiC GaN نیمه هادی
سیستم های آزمایش نیمه هادی
February 26, 2025
2 MS/s کارت جمع آوری داده های چند کانال A400B Board سرعت بالا 00:27
2 MS/s کارت جمع آوری داده های چند کانال A400B Board سرعت بالا

2 MS/s کارت جمع آوری داده های چند کانال A400B Board سرعت بالا
واحد اندازه گیری منبع
February 26, 2025
ابزار دقیق. منبع اکتشاف. سازگاری داخلی و خارجی. 01:24
ابزار دقیق. منبع اکتشاف. سازگاری داخلی و خارجی.

ابزار دقیق. منبع اکتشاف. سازگاری داخلی و خارجی.
ویدیوهای دیگر
February 17, 2025
30V / 1A / 10A تست نیمه هادی عملیات چهار ربع پالس منبع متر P100 00:24
30V / 1A / 10A تست نیمه هادی عملیات چهار ربع پالس منبع متر P100

30V / 1A / 10A تست نیمه هادی عملیات چهار ربع پالس منبع متر P100
واحد اندازه گیری منبع
February 24, 2025
واحد اندازه گیری منبع پالس 100V/100A HCP300 برای IGBT 00:25
واحد اندازه گیری منبع پالس 100V/100A HCP300 برای IGBT

واحد اندازه گیری منبع پالس 100V/100A HCP300 برای IGBT
واحد اندازه گیری منبع
February 24, 2025
300V/30A دو کانال منبع متر DP300B برای آزمایش های مختلف ویژگی های الکتریکی 00:24
300V/30A دو کانال منبع متر DP300B برای آزمایش های مختلف ویژگی های الکتریکی

300V/30A دو کانال منبع متر DP300B برای آزمایش های مختلف ویژگی های الکتریکی
اندازه گیری منبع دو کانال
February 24, 2025
S300 واحد اندازه گیری منبع DC 300V/1A برای آزمایش ویژگی های الکتریکی 00:24
S300 واحد اندازه گیری منبع DC 300V/1A برای آزمایش ویژگی های الکتریکی

S300 واحد اندازه گیری منبع DC 300V/1A برای آزمایش ویژگی های الکتریکی
واحد اندازه گیری منبع
February 24, 2025
کارت اکتشاف داده A400 با رزولوشن 16 بیتی ADC و نرخ نمونه گیری 1MS / s 00:24
کارت اکتشاف داده A400 با رزولوشن 16 بیتی ADC و نرخ نمونه گیری 1MS / s

کارت اکتشاف داده A400 با رزولوشن 16 بیتی ADC و نرخ نمونه گیری 1MS / s
کارت جمع آوری اطلاعات
February 26, 2025