کانال ویدیویی چین Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
گپ تماس با ما
خونه ویدیوها لیست پخش درباره ما وب سایت رسمی
فارسی
English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Polish
Persian
Bengali
Thai
Vietnamese
Arabic
Hindi
Turkish
Indonesian
loading

10V / 200mA چهار کانال Sub Card Source Meter CS400 برای آزمایش سرعت بالا در محیط های موازی

تجهیزات آزمایش چند کانال
February 24, 2025
گپ
معرفی CS400، یک متر منبع چهار کانال با چگالی بالا برای آزمایشات با سرعت بالا در محیط های موازی، ارائه محدوده ولتاژ ±10V، محدوده جریان 5uA-200mA،و حداکثر سرعت نمونه گیری 1000 S/s، با دقت 0.10٪، ایده آل برای نیمه هادی قدرت، دستگاه مجزا، و آزمایش مدار یکپارچه است. به بازدید از وب سایت ما خوش آمدید!
تجهیزات آزمایش چند کانال
فیلم های مرتبط
10V/500mA چهار کانال Sub Card DC منبع واحد اندازه گیری CS401 00:26
10V/500mA چهار کانال Sub Card DC منبع واحد اندازه گیری CS401

10V/500mA چهار کانال Sub Card DC منبع واحد اندازه گیری CS401
تجهیزات آزمایش چند کانال
February 24, 2025
10V/500mA واحد اندازه گیری منبع پالس چهار کانال Sub Card CBI401 00:24
10V/500mA واحد اندازه گیری منبع پالس چهار کانال Sub Card CBI401

10V/500mA واحد اندازه گیری منبع پالس چهار کانال Sub Card CBI401
تجهیزات آزمایش چند کانال
February 24, 2025
واحد اندازه گیری منبع پالس 10V/1A چهار کانال Sub Card CBI402 00:24
واحد اندازه گیری منبع پالس 10V/1A چهار کانال Sub Card CBI402

واحد اندازه گیری منبع پالس 10V/1A چهار کانال Sub Card CBI402
تجهیزات آزمایش چند کانال
February 24, 2025
10kV/6000A دستگاه قدرت تحلیلگر سیستم تست ثابت PMST برای MOSFET BJT IGBT و SiC GaN نیمه هادی 00:30
10kV/6000A دستگاه قدرت تحلیلگر سیستم تست ثابت PMST برای MOSFET BJT IGBT و SiC GaN نیمه هادی

10kV/6000A دستگاه قدرت تحلیلگر سیستم تست ثابت PMST برای MOSFET BJT IGBT و SiC GaN نیمه هادی
سیستم های آزمایش نیمه هادی
February 26, 2025
کارت اکتشاف داده A400 با رزولوشن 16 بیتی ADC و نرخ نمونه گیری 1MS / s 00:24
کارت اکتشاف داده A400 با رزولوشن 16 بیتی ADC و نرخ نمونه گیری 1MS / s

کارت اکتشاف داده A400 با رزولوشن 16 بیتی ADC و نرخ نمونه گیری 1MS / s
کارت جمع آوری اطلاعات
February 26, 2025
S300 واحد اندازه گیری منبع DC 300V/1A برای آزمایش ویژگی های الکتریکی 00:24
S300 واحد اندازه گیری منبع DC 300V/1A برای آزمایش ویژگی های الکتریکی

S300 واحد اندازه گیری منبع DC 300V/1A برای آزمایش ویژگی های الکتریکی
واحد اندازه گیری منبع
February 24, 2025
سیستم آزمون سنسور جریان 1000A CTMS 00:24
سیستم آزمون سنسور جریان 1000A CTMS

سیستم آزمون سنسور جریان 1000A CTMS
سیستم های آزمایش نیمه هادی
February 26, 2025
300A/30V منبع برق پالس با جریان بالا HCPL030 برای آزمایش SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24
300A/30V منبع برق پالس با جریان بالا HCPL030 برای آزمایش SiC/IGBT/GaN HEMT

300A/30V منبع برق پالس با جریان بالا HCPL030 برای آزمایش SiC/IGBT/GaN HEMT
منبع برق جریان بالا
February 25, 2025
2 MS/s کارت جمع آوری داده های چند کانال A400B Board سرعت بالا 00:27
2 MS/s کارت جمع آوری داده های چند کانال A400B Board سرعت بالا

2 MS/s کارت جمع آوری داده های چند کانال A400B Board سرعت بالا
واحد اندازه گیری منبع
February 26, 2025
سیستم پیری لیزری چند کانال LDBI با قدرت بالا 00:34
سیستم پیری لیزری چند کانال LDBI با قدرت بالا

سیستم پیری لیزری چند کانال LDBI با قدرت بالا
سیستم های آزمایش نیمه هادی
February 26, 2025