واحد اندازه گیری منبع پالس 18 ولت 1A چهار کانال Sub Card واحد اندازه گیری منبع پالس CBI403 SMU

زیرکارت ماژولار CBI401 عضو خانواده واحد اندازه گیری منبع (SMU) سری CS است که برای مشخصات الکتریکی با دقت بالا و دامنه پویا طراحی شده است.معماری ماژولار آن امکان ادغام انعطاف پذیر با هر دو سیستم میزبان 1003CS (3-slot) و 1010CS (10-slot) را فراهم می کندوقتی با میزبان 1010CS ترکیب شود، کاربران می توانند تا 40 کانال همگام سازی شده را پیکربندی کنند،به طور چشمگیری افزایش خروجی آزمایش برای کاربردهایی مانند اعتبار سنجی سطح وافره نیمه هادی و آزمایش فشارهای موازی چند دستگاه.

ویژگی های محصول

▪منبع و اندازه گیری با دقت بالا:0دقت 0.1٪ با وضوح 51⁄2-رقمی در سراسر طیف ولتاژ / جریان کامل.

▪عمليات چهار قطب:پشتیبانی از حالت های منبع / غرق (± 10V، ± 1A) برای پروفایل سازی دستگاه پویا.

▪حالت های آزمایشی دوگانه:عملکرد پالس و DC برای مشخصه سازی انعطاف پذیر رفتارهای گذرا و حالت ثابت.

▪چگالي کانال بالا:4 کانال در هر زیرکارت با معماری مشترک زمین، امکان پیکربندی های آزمایش موازی متراکم.

▪اتوبوس تگ قابل تنظیم:همگام سازی چند زیر کارت از طریق سیگنال های پرتاب قابل برنامه ریزی برای جریان های کاری هماهنگ چند دستگاه.

▪حالت اسکن پیشرفته:پروتکل های اسکن منحنی IV خطی، نمایی و تعریف شده توسط کاربر.

▪اتصال چند پروتکلرابط های RS-232، GPIB و Ethernet برای یکپارچه سازی در سیستم های تست خودکار.

▪مدولاريت فضايي کارآمد:طراحی ارتفاع 1U استفاده از فضای قفسه را بهینه می کند در حالی که از گسترش کانال مقیاس پذیر پشتیبانی می کند.

پارامترهای محصول

درخواست ها

▪مشخصات نانومواد:آزمایش خواص الکتریکی گرافین، نانو وایر و سایر نانومواد، ارائه داده های حیاتی برای پیشرفت تحقیق و توسعه مواد و برنامه های کاربردی.

▪تجزیه و تحلیل مواد ارگانیک:مشخصات الکتریکی جوهر الکترونیکی و الکترونیک چاپی، حمایت از نوآوری در فن آوری های الکترونیکی ارگانیک

▪آزمایش انرژی و کارایی:بهینه سازی عملکرد و اعتبارسنجی کارایی برای LED ها/AMOLEDها، سلول های خورشیدی، باتری ها و کنورترهای DC-DC.

▪آزمایش نیمه هادی:مشخصات الکتریکی جامع مقاومت ها، دیودها (زنر، PIN) ، BJT ها، MOSFET ها و دستگاه های SiC برای اطمینان از انطباق با استانداردهای کیفیت.

▪ارزیابی سنسور:مقاومت و آزمایش اثر هال برای تحقیق و توسعه سنسورها، تولید و کنترل کیفیت.

▪ليزر با قدرت کم:آزمایش قابلیت اطمینان طولانی مدت برای VCSEL ها و لیزرهای پروانه، نظارت بر کاهش عملکرد برای ارزیابی طول عمر و ثبات عملیاتی.