کانال ویدیویی چین Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
گپ تماس با ما
خونه ویدیوها لیست پخش Website

30V / 1A تست ویژگی های الکتریکی نیمه هادی واحد اندازه گیری منبع DC S100

واحد اندازه گیری منبع
February 24, 2025
Category Connection: واحد اندازه گیری منبع
گپ تماس با ما
معرفی S100، یک واحد اندازه گیری منبع DC 30V / 1A برای تست ویژگی های الکتریکی نیمه هادی، ارائه دقت بالا، محدوده پویایی گسترده و طراحی نوآورانه لمس دیجیتال،با ویژگی هایی مانند اطمینان از اندازه گیری دقیق، عملکرد همه در یک، وضوح بالا، عملیات چهار ربع، و رابط های غنی برای ادغام آسان، مناسب برای آزمایش نیمه هادی، تحقیقات مواد، آزمایش قطعات الکترونیکی،تحقیقات و آموزش، و سیستم های تست خودکار، خوش آمدید به بازدید از وب سایت ما!
برچسب ها:
#واحد متری منبع,واحد اندازه گیری منبع,واحد اندازه گیری منبع دقیق #واحد SMU برای آزمایش ویژگی های الکتریکی نیمه هادی,واحد SMU DC S100,S100 اندازه گیری SMU 30V 1A #precision source measure unit
فیلم های مرتبط
2 MS/s کارت جمع آوری داده های چند کانال A400B Board سرعت بالا 00:27

2 MS/s کارت جمع آوری داده های چند کانال A400B Board سرعت بالا
واحد اندازه گیری منبع
February 26, 2025
1000A / 18V منبع برق پالس جریان بالا HCPL100 برای آزمایش SiC / IGBT / GaN HEMT 00:24

1000A / 18V منبع برق پالس جریان بالا HCPL100 برای آزمایش SiC / IGBT / GaN HEMT
واحد اندازه گیری منبع
February 25, 2025
S300 واحد اندازه گیری منبع DC 300V/1A برای آزمایش ویژگی های الکتریکی 00:24

S300 واحد اندازه گیری منبع DC 300V/1A برای آزمایش ویژگی های الکتریکی
واحد اندازه گیری منبع
February 24, 2025
منبع برق ولتاژ بالا 3500V/100mA E300 00:24

منبع برق ولتاژ بالا 3500V/100mA E300
منبع برق ولتاژ بالا
February 25, 2025
کارت اکتشاف داده A400 با رزولوشن 16 بیتی ADC و نرخ نمونه گیری 1MS / s 00:24

کارت اکتشاف داده A400 با رزولوشن 16 بیتی ADC و نرخ نمونه گیری 1MS / s
کارت جمع آوری اطلاعات
February 26, 2025
10kV/6000A دستگاه قدرت تحلیلگر سیستم تست ثابت PMST برای MOSFET BJT IGBT و SiC GaN نیمه هادی 00:30

10kV/6000A دستگاه قدرت تحلیلگر سیستم تست ثابت PMST برای MOSFET BJT IGBT و SiC GaN نیمه هادی
سیستم های آزمایش نیمه هادی
February 26, 2025
سیستم پیری لیزری چند کانال LDBI با قدرت بالا 00:34

سیستم پیری لیزری چند کانال LDBI با قدرت بالا
سیستم های آزمایش نیمه هادی
February 26, 2025
واحد اندازه گیری منبع پالس 18V/1A چهار کانال Sub Card CBI403 00:28

واحد اندازه گیری منبع پالس 18V/1A چهار کانال Sub Card CBI403
تجهیزات آزمایش چند کانال
February 24, 2025
ابزار دقیق. منبع اکتشاف. سازگاری داخلی و خارجی. 01:24

ابزار دقیق. منبع اکتشاف. سازگاری داخلی و خارجی.
ویدیوهای دیگر
February 17, 2025
1200V/100A تحلیلگر پارامتر نیمه هادی SPA6100 00:36

1200V/100A تحلیلگر پارامتر نیمه هادی SPA6100
سیستم های آزمایش نیمه هادی
February 26, 2025